真空高溫烤箱相關(guān)資料下載
時(shí)間:2017-01-12 16:38 來源:正航儀器 作者:網(wǎng)絡(luò)工作組
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| 精密烤箱操作說明書 | 680KB | 2006-05-18 | ||
| 簡(jiǎn)述: |
感謝您購(gòu)買精密烤箱,本操作說明書系針對(duì)日常操作之參數(shù)詳加說明。安全注意事項(xiàng)記載了有關(guān)安全的重要內(nèi)容,請(qǐng)務(wù)必遵守。
一、操作簡(jiǎn)介:
1、打開電源開關(guān),電源正常時(shí),電源指示燈及儀表通電正常顯示,打開電源開關(guān)后,請(qǐng)打開烤箱門試探箱內(nèi)是否有風(fēng),風(fēng)機(jī)轉(zhuǎn)向是否正確,有風(fēng)即可,以下操作,無風(fēng)循環(huán)停止操作,檢查原因,電源指示燈不亮,檢查電源故障;
2、加溫開關(guān),溫度設(shè)定好后,需要加溫時(shí),打開加溫開關(guān)即可,不需要加溫時(shí)關(guān)閉;加溫開關(guān)打開后無溫度升起,請(qǐng)檢查加熱器、接觸器、固態(tài)SSR有無工作;
3、打開計(jì)時(shí)器開關(guān),計(jì)時(shí)器通電后請(qǐng)?jiān)O(shè)定好需要計(jì)時(shí)單位及數(shù)據(jù)(計(jì)時(shí)器操作詳見計(jì)時(shí)器說明書)設(shè)定好后關(guān)閉,溫度設(shè)定好后再打開;
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| 真空脫泡試驗(yàn)機(jī)操作說明書 | 858KB | 2006-05-18 | ||
| 簡(jiǎn)述: |
感謝您購(gòu)買真空脫泡試驗(yàn)機(jī),本操作說明書系針對(duì)日常操作之參數(shù)詳加說明。安全注意事項(xiàng)記載了有關(guān)安全的重要內(nèi)容,請(qǐng)務(wù)必遵守。
一、操作簡(jiǎn)介:
1、首先把機(jī)臺(tái)真空泵管道接好,插好真空泵電源插頭;
2、接上與機(jī)臺(tái)相符合電源,請(qǐng)注意電源一定要相符;
3、打開電源開關(guān),電源正常時(shí),電源指示燈通電正常顯示,打開電源開關(guān)后,電源指示燈不亮,檢查電源故障;
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| 真空干燥箱標(biāo)準(zhǔn)介紹 | 738KB | 2006-05-18 | ||
| 簡(jiǎn)述: |
1 、范圍:
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了真空干燥箱的型式、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝與貯存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于物料在真空狀態(tài)下進(jìn)行加熱干燥處理用的真空干燥箱(以下簡(jiǎn)稱真空箱)。
2、 引用標(biāo)準(zhǔn):
下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效,所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)版本的可能性。
GB 191-1990 包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志
GB/T 998-1982 低壓電器基本試驗(yàn)方法
GB/T 2828-1987 逐批檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)
GB/T 13306-1991 標(biāo)牌
GB/T 15464-1995 儀器儀表包裝通用技術(shù)條件
GB/T 5520-1991 干燥箱技術(shù)條件
GB/T 8282-1999 遠(yuǎn)紅外線干燥箱
GB/T 9329-1999 儀器儀表運(yùn)輸、運(yùn)輸貯存基本環(huán)境條件及試驗(yàn)方法
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| 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)—高溫試驗(yàn)方法 | 931KB | 2006-05-18 | ||
| 簡(jiǎn)述: |
本標(biāo)準(zhǔn)等效采用標(biāo)準(zhǔn)IEC 68-2-2《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:干熱》(1974年版)及其次補(bǔ)充文件IEC68-2-2A(1978)。
1 、主題內(nèi)容與適用范圍:
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程:高溫試驗(yàn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于非散熱的和散熱的電工、電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)的高溫試驗(yàn)。
本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存和(或)使用的適應(yīng)性。本標(biāo)準(zhǔn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力,這時(shí)應(yīng)采用GB 2423.22 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》。
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| 軍用環(huán)境試驗(yàn)方法—高溫試驗(yàn) | 256KB | 2006-05-18 | ||
| 簡(jiǎn)述: |
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了軍用設(shè)備的高溫試驗(yàn)方法,是制定軍用設(shè)備技術(shù)條件或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。GJB150.1-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 總則》的規(guī)定適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于可能遇到高溫環(huán)境的軍用設(shè)備。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用在太陽(yáng)輻射下造成不均勻加熱和光化學(xué)效應(yīng)的高溫環(huán)境下的軍用設(shè)備,對(duì)遇到這種環(huán)境的設(shè)備,應(yīng)按GJB150.7-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)》進(jìn)行考核。
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| 塑料熱老化試驗(yàn)方法 | 1.05MB | 2006-05-18 | ||
| 簡(jiǎn)述: |
1 范圍:
1.1 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了塑料僅在不同溫度的熱空氣中暴露較長(zhǎng)時(shí)間時(shí)的暴露條件。本標(biāo)準(zhǔn)僅規(guī)定了熱爆露的方法,而未對(duì)試驗(yàn)方法或試樣進(jìn)行規(guī)定。熱對(duì)塑料任何性能的影響都可以通過選擇適合的試驗(yàn)方法和試樣來測(cè)定,本標(biāo)準(zhǔn)的推薦使用ASTM D3826標(biāo)準(zhǔn)來測(cè)定脆化終點(diǎn),脆化終點(diǎn)是指在0.1mm/min的初始應(yīng)變速率下,當(dāng)75%的被測(cè)試樣斷裂伸長(zhǎng)率為5%或更小值時(shí),材料即達(dá)到其脆化終點(diǎn)。
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本頁(yè)關(guān)鍵詞高溫試驗(yàn)方法|真空干燥箱|塑料熱老化試驗(yàn)方法








